ASTM B 330-2005 测定金属粉末及相关化合物的费歇尔值的标准试验方法

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标准名称：	半导体单晶晶向测定方法
英文名称：	Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
中标分类：	冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法
ICS分类：	电气工程 >> 半导体材料
替代情况：	替代GB 1555-1979;GB 1556-1979;GB 5254-1985;GB 5255-1985;GB 8759-1988;被GB/T 1555-2009代替
发布部门：	国家技术监督局
发布日期：	1997-01-02
实施日期：	1998-08-01
首发日期：	1979-05-26
作废日期：	2010-06-01
主管部门：	国家标准化管理委员会
归口单位：	全国半导体材料和设备标准化技术委员会
起草单位：	峨嵋半导体材料厂
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2004-04-01
页数：	平装16开， 页数：8， 字数：12千字
书号：	155066.1-14909

本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。

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【英文标准名称】:HeatingSystemsinbuildings-Designandinstallationofdirectelectricalroomheatingsystems.
【原文标准名称】:建筑物的供热系统.直接电房间供暖系统的设计和安装
【标准号】:NFP52-615-2006
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2006-04-01
【实施或试行日期】:2006-04-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:P91;P46;Q83
【国际标准分类号】:91_140_10;97_100_10
【页数】:17P;A4
【正文语种】:其他